아드반테스트, 전력 반도체용 KGD 테스트 셀 출시

아드반테스트의 'HA1100'

아드반테스트는 전력 반도체에 필수적인 와이드밴드갭(WBG) 디바이스의 다이 레벨 테스트 수율을 극대화하도록 설계한 통합 테스트 셀을 선보였다고 18일 밝혔다.

아드반테스트의 KGD(Known Good Die) 테스트 셀은 키사이트의 CREA MT 시리즈 전력·디바이스 테스터와 새로운 HA1100 다이 프로버를 결합한 제품이다.

전기차(EV)와 전력 인프라의 급속한 증가로 전력 반도체 수요가 증가하고 있다. 실리콘 카바이드(SiC)와 질화 갈륨(GaN) 같은 WBG 디바이스는 전력 반도체 설계와 제조에 필수적이며 실리콘 기반 디바이스보다 더 작고, 더 빠르고, 더 효율적인 성능을 구현한다. 하지만 높은 전압과 전류로 프로브 카드, 척·디바이스가 손상될 수 있어 WBG 디바이스 고장 선별은 까다로운 작업이다.

KGD 테스트 셀 솔루션은 고객사 제조 비용 절감을 돕는다. CREA의 프로브 카드 인터페이스(PCI) 기술은 KGD 디바이스의 손상 위험을 제거할 수 있다. 테스트 때 제품이 손상되면 테스트 셀로 조사할 수 있어 고객사의 가동 중단 시간을 최소화한다.

CREA MT 시리즈 테스트 시스템용 HA1100 다이 프로버는 KGD만 사용해 전력 모듈에서 다이를 조립할 수 있으므로 모듈에 불량 다이가 들어가는 것을 막는다. 이는 모듈 테스트에서 수율 손실을 방지, 최종 멀티 다이 조립 전력 모듈의 손실을 줄여준다.

카즈유키 야마시타 아드반테스트 DH그룹 총괄 부사장은 “새로운 KGD 테스트 셀은 CREA MT 테스터와 어드밴테스트의 입증된 처리 기술을 결합한 최초의 솔루션으로 다이 레벨에서 동적 테스트가 가능하다”고 설명했다.

그는 “CREA PCI 기술은 전력·에너지를 조절해 프로브 카드, 척과 디바이스가 손상되지 않도록 보호하는 동시에 불합격 다이를 테스트할 수 있어 고객이 안심하고 모듈을 조립할 수 있는 경쟁력 있는 차별화 요소”라고 강조했다.

현재 개발 중인 HA1100 다이 프로버는 2025년 2분기 세계 시장에 출시될 예정이다.

이호준 기자 newlevel@etnews.com

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