특허청, 상표 심사· 심판·재판관 합동세미나 개최

특허청은 28일 변리업계 등을 대상으로 ‘현장 소통과 심사품질 제고를 위한 심사·심판·재판관 합동세미나’를 개최한다. 사진은 최동규 특허청장(왼쪽 2번째)과 알 쉐히(Al Shehhi) 아랍에미리트(UAE) 경제부 차관이 양해각서(MOU)를 맺는 모습. © News1

(대전ㆍ충남=뉴스1) 박찬수 기자 = 특허청은 28일 오후 3시 서울 강남구에 소재한 한국지식재산센터 19층 대회의실에서 변리업계 등을 대상으로 ‘현장 소통과 심사품질 제고를 위한 심사·심판·재판관 합동세미나’를 개최한다.

상표·디자인 출원에 대한 심사, 심판 및 소송을 각각 담당하는 심사관, 심판관, 특허법원 판사 등 판단 주체간의 판단기준 및 견해 차이를 최소화하여 일관성 있고 효율적인 심사, 심판 및 소송 방안을 모색하기 위해서다

이날 Δ대법원·특허법원의 상표·디자인 심결취소소송 및 침해소송 등의 주요 판례를 통한 법원의 견해 연구(특허법원 윤주탁 판사) Δ실제 분쟁사례를 통해 판단주체와의 견해차이를 극복하기 위한 방법(특허심판원 윤종석 심판관) Δ최근 상표 심사관의 결정에 대한 이의심사관의 견해 및 이의신청관련 유의사항(특허청 복합상표심사팀 한상규 서기관) 등이 다뤄질 예정이다.

최규완 특허청 상표디자인심사국장은 “상표·디자인분야의 심사·심판·재판관 등 실무자간의 토론을 통해 심사, 심판 및 소송단계에서의 상호 관점의 차이를 극복하기 위한 방안 등이 제시되는 장이 될 것”이라고 밝혔다.
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