펨토초 레이저와 갈륨(Ga) 이온빔을 통해 배터리 단면의 원하는 지점을 ㎜부터 ㎚까지 밀링해 고해상도 이미징 분석을 지원하는 집속이온빔 주사전자현미경(FIB-SEM)과 활성 물질, 전극, 셀의 각 층별 구조를 고해상도 이미지로 출력하는 엑스레이 현미경 등을 선보인다. 또 컴퓨터단층촬영(CT)에 적용하는 소프트웨어로 AI가 결함을 분석하는 기술도 공개한다.
정현정 기자 iam@etnews.com
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