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엑스포넨트(Exponent)의 케빈 화이트 수석 연구원 |
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TUV 라인란드(TUV Rheinland) 홀거 쿤츠 (Holger Kunz) 부사장 |
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UL 컨슈머비즈니스부문 사지브 지수다스 사장 |
아시아투데이 김민수 기자 = 삼성전자는 23일 서초사옥에서 국내외 언론 300여명이 참석한 가운데 갤럭시 노트7 소손(燒損) 원인을 공개하고, 향후 재발 방지 대책을 발표했다.
이번 소손 원인 조사의 객관성을 높이기 위해 UL, Exponent, TUV 라인란드 등 해외 전문기관은 독립적인 조사를 진행했다. UL의 컨슈머비즈니스 부문 사지브 지수다스(Sajeev Jesudas) 사장, 엑스포넌트(Exponent)의 수석 연구원 케빈 화이트(Kevin White) 박사, TUV 라인란드(TUV Rheinland) 홀거 쿤츠 (Holger Kunz) 부사장이 참석해 각각 조사 결과를 발표했다.
삼성전자는 제품 20만대, 배터리 3만개로 진행한 대규모 충방전 시험에서 소손 현상을 재현했으며, 갤럭시노트7에 채용된 삼성SDI의 배터리와 ATL의 배터리에서 각기 다른 원인으로 소손 현상이 일어나는 것을 확인했다고 밝혔다.
삼성전자와 외부 조사기관 2곳에 따르면 삼성SDI의 배터리에서는 음극판의 눌림 현상으로 인해 우측 상단 코너에서 소손 현상이 발생했다. ATL 배터리의 경우, 초음파 융착과정에서 발생한 비정상적으로 큰 융착돌기가 절연테이프와 분리막을 뚫으면서 음양극이 만나 소손이 발생했다.
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