┌────────────┬────────────┬───────────┐ │ 검증기관 │ A배터리 │ B배터리 │ ├────────────┼────────────┼───────────┤ │UL │배터리 위쪽 모서리의 눌 │비정상적 융착 돌기, 절│ │ │림 현상, 얇은 분리막 │연 테이프 미부착, 얇 │ │ │ │은 분리막 │ ├────────────┼────────────┼───────────┤ │엑스포넌트 │음극탭 부위 젤리롤(양극 │비정상적으로 높은 융착│ │ │재, 음극재, 분리막을 돌│ 돌기 때문에 절연 테 │ │ │돌 만 것) 모서리의 눌림 │이프와 분리막 파손 │ │ │현상 │ │ ├────────────┼────────────┴───────────┤ │TUV 라인란드 │스마트폰 제조 공정과 배터리 물류 시스템에서 배터│ │ │리 안전성 저해 요인 발견 못 해 │ └────────────┴────────────────────────┘
※ A는 삼성SDI, B는 중국 ATL로, 삼성전자와 검증기관들은 이들 협력사 실명을 밝히지 않음.
(서울=연합뉴스)
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